晶體分析儀

簡要描述：晶體分析儀是利用X射線衍射原理分析物質內部結構的一種大型精密分析器，是多晶體分析的Z基本方法。廣泛用于教學、工業、農業國防和科研領域。

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晶體分析儀是利用X射線衍射原理分析物質內部結構的一種大型精密分析器，是多晶體分析的zui基本方法。廣泛用于教學、工業、農業國防和科研領域。

　　DXJ-2000型晶體分析儀高壓控制單元采用單片機控制，并有故障診斷功能，儀器整機性能穩定可靠，主要技術指標如下：

　　X射線發生器部分

　　●額定輸出功率：3kW；

　　●管電壓：10~60kV 　1kV/step；

　　●管電流：5~80mA 　1mA/step；

　　●管電壓、管電流穩定度：<0.01%；

　　●有過壓、過流、過功率、無壓、無水、X射線管工作水溫等保護；

　　●kV、mA升降，光閘開關由微機控制功能。

　　X射線防護

　　●鉛玻璃防護，光閘窗口與防護罩連動，防護罩外射線計量不大于1μSv/h。

　　X射線管

　　●zui大額定功率：2kW、焦點尺寸：1×10mm；

　　●靶材：Cu靶或其他靶材；

　　●濾波片：Ni或與靶材匹配。

　　X射線照相機

　　●勞厄相機：用微X射線衍射對晶體結構進行分析；

　　●德拜相機：用X射線衍射對微小微量的樣品進行分析。