薄膜瑕疵檢測系統(tǒng)

項目背景
    薄膜作為包裝材料的主要形式，已經(jīng)成為工業(yè)產(chǎn)品*的原材料。在薄膜的生產(chǎn)過程中，由于生產(chǎn)工藝及現(xiàn)場環(huán)境等影響，容易造成薄膜表面出現(xiàn)黑點、晶點、劃傷、破洞、線條、褶皺、蚊蟲等缺陷。這些缺陷不僅影響薄膜產(chǎn)品的外觀，更重要的是降低了薄膜的使用性能。如何在生產(chǎn)過程中及時檢出薄膜表面的瑕疵缺陷，消除生產(chǎn)的根源，實現(xiàn)控制和提高薄膜的表面質(zhì)量，一直是薄膜企業(yè)追求的目標。
    現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)對薄膜表面的質(zhì)量提出越來越高的要求，傳統(tǒng)的檢測方法如人工目視抽檢已經(jīng)遠遠不能滿足現(xiàn)在工業(yè)生產(chǎn)中高速、高分辨率和無損只能檢測的要求，基于CCD的薄膜表面瑕疵檢測系統(tǒng)與傳統(tǒng)的人工肉眼檢測相比，具有快速、可靠。準確的優(yōu)點，目前已被許多薄膜企業(yè)所應用。
工作原理
    生產(chǎn)線正常生產(chǎn)時，高亮的LED線性聚光冷光源采用透射的原理照射在生產(chǎn)線表面（對于不透明的薄膜產(chǎn)品采用反射的檢測原理），架設在生產(chǎn)線上的線陣相機進行實時同步掃描，同時系統(tǒng)將相機采集到的薄膜圖像通過SIMV圖像處理單元進行瑕疵分割處理。

  由于瑕疵圖像的灰階與正常產(chǎn)品的灰階存在明顯差異，從而使系統(tǒng)能夠發(fā)現(xiàn)瑕疵，同時對瑕疵進行有效的判定、分類。

技術(shù)介紹
    【薄膜表面檢測系統(tǒng)】主要用于檢測薄膜在生產(chǎn)過程中表面出現(xiàn)的黑點、晶點、劃傷、破洞、線條、褶皺、蚊蟲等缺陷，借助于由工業(yè)CCD相機、高亮LED線性聚光光源組成的薄膜表面缺陷檢測的成像系統(tǒng)，及時準確的反應缺陷的的圖片、形狀、尺寸以及位置等具體信息，在為質(zhì)量控制、產(chǎn)品評級提供真是準確數(shù)據(jù)的同時，有效的節(jié)約了生產(chǎn)成本、提高了產(chǎn)品質(zhì)量。